Der Ausstellungskatalog zur Ausstellung »Hieb § Stich – Dem Verbrechen auf der Spur« über die Techniken der Spurenanalyse in der Rechtsmedizin und Kriminalistik, wurde mit Blindprägung, Banderolen und Fadenbindung hochwertig produziert.
Auftraggeber: h neun Berlin, Büro für Wissensarchitekturen